Up-Screen
Laser Evaluation & Lab Access
Radiation Hardness Evaluation
LASER2COTS
LASER2COTS는 QRT에서 진행한 반도체 레이저 SEE(Single Event Effect) 평가 결과와 관련 기술 정보를 공유하기 위해 오픈한 페이지 입니다.
QRT에서 진행한 레이저 기반 SEE 평가에 대한 사례, 기술 자료, 그리고 엔지니어가 직접 레이저 장비를 조작하기 위한 매뉴얼을 제공하고 이를 통해 연구자와 개발자들이 필요한 정보를 쉽게 얻고 활용할 수 있도록 구성되어 있습니다.
QRT에서 제시하는 반도체 신뢰성 평가의 최신 기술 동향과 실용적 인사이트, New Standard를 LASER2COTS에서 확인하세요.
QRT-LITE
QRT-LITE(Laser Irradiation Tools for Evaluation)는 Pulsed Laser를 통해 우주 방사선이 반도체 소자에 미치는 영향을 모사하여 기존 방사선 시험을 대체하여 평가를 수행할 수 있도록 도와주는 프로그램입니다.
Articles
- 반도체 방사선 내성 레이저 평가(Laser Test)
- Semiconductor Radiation Hardness Laser Evaluation (Laser Test)
- SPA vs TPA
- SPA vs TPA
- 레이저 평가가 필요한 이유 (비용적 측면)
- Why Laser Evaluation is Necessary (Cost Perspective)
- NASA 문건으로 본 레이저 평가
- Laser Evaluation Based on NASA Documents
- 레이저평가의 글로벌 동향
- 반도체 패키지 타입별 SEE 레이저 평가 가능성 분석
- Analysis of Laser Evaluation Feasibility by Semiconductor Package Type
- 반도체 기판의 밴드갭 및 광흡수 메커니즘 비교
- Comparison of Band Gaps and Optical Absorption Mechanisms of Semiconductor Substrates
- 방사선이 반도체에 미치는 영향
- Effects of Radiation on Semiconductors
- 방사선 내성 평가(Radiation Hardness Test)
- Radiation Hardness Test
- New Space란?
- SEE (Single Event Effect)란?
- What is SEE (Single Event Effect)?
![[Video] Space Semiconductor Testing Without a Heavy Ion Accelerator?](https://img.youtube.com/vi/_6l7bhIXtJw/maxresdefault.jpg)
![[Video] 'Up-Screen': Transforming Commercial Semiconductors into Space-Grade Devices](https://img.youtube.com/vi/0eppDZ0qxQU/maxresdefault.jpg)