방사선 내성 평가(Radiation Hardness Test); 내방사선 평가
일반적으로 방사선 내성 평가는 빔 가속 시설에서 이뤄집니다.
고방사선 환경에서 운용되는 우주, 항공, 군사, 원자력 분야의 전자장비 신뢰성을 확보하기 위해 수행합니다.
우주나 고고도 환경에는 지구 대기권이 차단하지 못하는 고에너지 입자 및 방사선(양성자, 전자, 중성자, 감마선 등) 이 존재합니다. 이러한 입자들이 반도체 칩과 충돌하면 다음과 같은 심각한 문제들이 발생할 수 있습니다:
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SEU (Single Event Upset) 단일 입자로 인해 메모리 셀이나 레지스터의 비트값이 일시적으로 반전되는 현상입니다. 쉽게 말해, 0이 1로, 혹은 1이 0으로 바뀌는 오류가 발생할 수 있으며, 이는 시스템의 오작동이나 데이터 오류로 이어질 수 있습니다.
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SEL (Single Event Latch-up) 단일 입자로 인해 회로 내에 과도한 전류가 흐르면서, 회로 전체가 손상되거나 시스템이 완전히 멈추는 현상입니다. 이는 복구가 불가능한 치명적인 오류로 이어질 수 있기 때문에 특히 주의가 필요합니다.
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TID (Total Ionizing Dose) 장시간 동안 방사선에 노출되면, ionized trap이 누적되며 회로의 전기적 특성과 성능이 점차 저하됩니다. 이는 소자의 특성, 수명, 다른 에러(SEU, SEL) 발생 증가 등 부정적인 영향을 줍니다.
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DD (Displacement Damage) 방사선이 장기간 노출에 의한 누적된 현상이란 점은 TID와 유사하나 반도체 특성의 변화가 생기는 원리로 TID와 구분 됩니다. 고에너지 입자가 반도체 내부 원자 구조를 물리적으로 변화시키는 현상입니다. 일반적으로 소자의 성능이 열화됩니다.
QRT 방사선 내성 평가 서비스
QRT에서는 다음과 같은 방사선 평가 대행 서비스를 진행하고 있습니다.
- Total Ionizing Dose (TID), Displacement Damage (DD), Single Event Effects (SEE) 의 평가 대행
- Pulsed Laser SEE Test
- 고객 요구에 최적화된 평가용 보드 제작