레이저 평가

펨토 초 펄스레이저를 이용한 레이저 평가인 Pulsed Laser SEE Test (PLSEE)는 Pulsed Laser를 통해 우주 방사선이 반도체 소자에 미치는 영향을 모사하여 기존 방사선 시험을 대체하여 평가를 수행하는 방법입니다. 레이저는 짧은 시간 동안 매우 높은 에너지를 국소적으로 부여할 수 있기 때문에, 실제 입자 충돌에 준하는 전자기적 반응을 유도할 수 있습니다. 일반적으로 SEE의 평가는 중이온 빔 가속 시설에서 이뤄집니다. 하지만 이는 고가의 시설 대여료, 공간의 제약, 정밀한 취약점 분석 불가 등의 단점이 존재합니다. 레이저 테스트의 가장 큰 장점은 실험 비용과 시간의 절감입니다. 입자 가속기를 활용하는 기존의 방사선 테스트는 장비 이용이 제한적이고 비용이 매우 높아 테스트 기회를 확보하는 데 어려움이 따릅니다. 반면, 레이저 기반 장비는 상대적으로 저렴하고, 실험실 내 설치 및 운용이 가능하여 빠른 반복 실험이 가능합니다. 또한 레이저는 매우 높은 위치 정확도를 제공하여, 전자 소자 내부의 특정 영역을 정밀하게 타격하고, 취약 부위를 분석할 수 있습니다. 이를 통해 디자인 초기 단계부터 방사선 취약성을 식별하고 보완할 수 있는 장점이 있습니다.

QRT 레이저 평가 서비스

QRT-Laser Evaluation System

반도체 민감 영역 분석

QRT의 레이저 평가 기술

QRT는 다년간의 레이저 내방사선 평가 수행 경험을 보유하고 있는 국내 유일 회사입니다. 펨토초(Femtosecond) 레이저 시스템을 활용해, 단일 광자 흡수(SPA, Single Photon Absorption)는 물론 이중 광자 흡수(TPA, Two Photon Absorption) 방식까지 모두 구현 가능한 다목적 레이저 평가 기술을 보유하고 있습니다. QRT에서는 레이저를 이용한 반도체의 내방사선 대체평가와 내방사선 반도체의 설계 검증을 진행하실 수 있습니다.

회로 민감 영역 분석

QRT의 평가 장비는 나노미터 단위로 제어 가능한 고정밀 XYZ 스테이지를 통해, 칩의 특정 좌표에 레이저를 정밀하게 조사할 수 있습니다. 이를 통해, SEE (Single Event Effect) 발생 위치 및 패턴을 정밀하게 분석하고, 회로 내 민감 영역 (Sensitive Area)을 효과적으로 식별할 수 있습니다.

※ QRT에 레이저 평가 문의하기

관련 글