1.2 레이저 평가 방법

SEE(Single Event Effect)란 방사선 입자(중이온, 양성자, 중성자, 감마선 등)에 의해 반도체 소자의 기능이 점진적, 일시적 혹은 순간적으로 변화되거나 기능 일부 혹은 전체가 상실되는 현상을 말합니다.

일반적으로 SEE의 평가는 빔 가속 시설에서 이뤄집니다. 하지만 이는 고가의 시설 대여료, 공간의 제약, 정밀한 취약점 분석 불가 등의 단점이 존재합니다.

펨토 초 펄스레이저를 이용한 레이저 평가인 Pulsed Laser SEE Test (PLSEE)는 Pulsed Laser를 통해 우주 방사선이 반도체 소자에 미치는 영향을 모사하여 기존 방사선 시험을 대체하여 평가를 수행하는 방법입니다.