레이저 평가

일반적으로 SEE의 평가는 빔 가속 시설에서 이뤄집니다. 하지만 이는 고가의 시설 대여료, 공간의 제약, 정밀한 취약점 분석 불가 등의 단점이 존재합니다.

펨토 초 펄스레이저를 이용한 레이저 평가인 Pulsed Laser SEE Test (PLSEE)는 Pulsed Laser를 통해 우주 방사선이 반도체 소자에 미치는 영향을 모사하여 기존 방사선 시험을 대체하여 평가를 수행하는 방법입니다. 레이저는 짧은 시간 동안 매우 높은 에너지를 국소적으로 부여할 수 있기 때문에, 실제 입자 충돌에 준하는 전자기적 반응을 유도할 수 있습니다. 레이저 테스트의 가장 큰 장점은 실험 비용과 시간의 절감입니다. 입자 가속기를 활용하는 기존의 방사선 테스트는 장비 이용이 제한적이고 비용이 매우 높아 테스트 기회를 확보하는 데 어려움이 따릅니다. 반면, 레이저 기반 장비는 상대적으로 저렴하고, 실험실 내 설치 및 운용이 가능하여 빠른 반복 실험이 가능합니다. 또한 레이저는 매우 높은 위치 정확도를 제공하여, 전자 소자 내부의 특정 영역을 정밀하게 타격하고, 취약 부위를 분석할 수 있습니다. 이를 통해 디자인 초기 단계부터 방사선 취약성을 식별하고 보완할 수 있는 장점이 있습니다.


반도체 취약 영역 분석